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光缆熔接损耗太大,光缆熔接损耗要求

光缆熔接损耗太大,光缆熔接损耗要求

大家好,今天小编关注到一个比较有意思的话题,就是关于光缆熔接损耗太大的问题,于是小编就整理了4个相关介绍光缆熔接损耗太大的解答,让我们一起看看吧。

  1. 光纤熔接哀减太大是什么原因?
  2. 光纤熔接衰减大是怎么回事?都有那些原因造成的?
  3. 光纤熔接衰减大是怎么回事?都有那些原因造成的?
  4. 光缆熔接损耗大于多少算不合格,用OTDR测试出来数据显示什么时代表纤芯...

1、光纤熔接哀减太大是什么原因?

光纤熔接衰减大一般是:光缆本身质量问题,光纤芯不值正圆而是椭圆。熔接点工艺问题,衰减过大。成端接头过脏。光线路测试仪本身问题。

光纤熔接机出现损耗过大的原因有:光纤切割刀的质量不好,光纤切割刀的角度过大、端面不良。光纤熔接机的质量不好,造成光纤熔接时损耗过大。操作者技术不过关。

情况很多,只能说说最常见的,现场综合排查:布放的线路弯曲半径过小,造成光衰 上联光信号不好 熔接时没有清洁光纤,不规范操作 熔接机里面光原件有污垢,影响熔接效果。

光纤光衰过大的原因:光纤连接器的问题。光纤连接过松,连接过紧,PC或APC对接问题,而且PC或APC对接会造成至少3DB的衰减。光纤问题。

2、光纤熔接衰减大是怎么回事?都有那些原因造成的?

熔接机模式没设置正确,比如你用单模的熔接去熔多模或者双包层\x0d\x0a放电电容有问题了,熔接时能量达不到\x0d\x0a光纤不匹配,比如你用单模和多模熔\x0d\x0a光纤没有切好,端面不平整。

选择错误光纤熔接程序。光纤的端面切割角度过大。光学系统脏污,主要是反光镜,物镜脏污。V型槽脏污,光纤压脚脏污。电极老化,导致放电强度过弱;电极放电过强也会导致熔接损耗过。

光纤熔接机出现损耗过大的原因有:光纤切割刀的质量不好,光纤切割刀的角度过大、端面不良。光纤熔接机的质量不好,造成光纤熔接时损耗过大。操作者技术不过关。

光纤固有损耗 光纤固有损耗的产生主要源于光纤模场直径不一致、光纤芯径失配、纤芯截面不圆和纤芯与包层同心度不佳四方面。其中影响最大的是模场直径不一致。

3、光纤熔接衰减大是怎么回事?都有那些原因造成的?

熔接机模式没设置正确,比如你用单模的熔接去熔多模或者双包层\x0d\x0a放电电容有问题了,熔接时能量达不到\x0d\x0a光纤不匹配,比如你用单模和多模熔\x0d\x0a光纤没有切好,端面不平整。

选择错误光纤熔接程序。光纤的端面切割角度过大。光学系统脏污,主要是反光镜,物镜脏污。V型槽脏污,光纤压脚脏污。电极老化,导致放电强度过弱;电极放电过强也会导致熔接损耗过。

光纤熔接机出现损耗过大的原因有:光纤切割刀的质量不好,光纤切割刀的角度过大、端面不良。光纤熔接机的质量不好,造成光纤熔接时损耗过大。操作者技术不过关。

光纤固有损耗 光纤固有损耗的产生主要源于光纤模场直径不一致、光纤芯径失配、纤芯截面不圆和纤芯与包层同心度不佳四方面。其中影响最大的是模场直径不一致。

4、光缆熔接损耗大于多少算不合格,用OTDR测试出来数据显示什么时代表纤芯...

但由于1550 nm波长对光纤弯曲损耗的影响比1310 nm波长敏感得多,因此,使用OTDR测试时,测试的波长设置窗口一般为 1550nm ;纤芯平均衰耗标准为≤ 0.25dB/km ;双向测试纤芯接头衰耗标准为≤0.08dB/个。

光损耗是度量一个光纤接头质量的重要指标,有几种测量方法可以确定光纤接头的光损耗,如使用光时域反射仪(OTDR)或熔接接头的损耗评估方案等。1.熔接接头损耗评估 某些熔接机使用一种光纤成像和测量几何参数的断面排列系统。

熔接机显示的损耗一般较小0.05db,但是使用OTDR测试熔接损耗经常大于0.08db。

熔接机显示的损耗一般较小0、05db,但是使用OTDR测试熔接损耗经常大于0、08db。

记住:单点熔接衰减不能超过0.6,可以使用但是不合格,实践当中中间接续点,最多10个,是可以什么都不影响的。但是没有超过12个的。熔接损耗是整个链路当中最小的,尾纤耦合器质量,盘纤的弯曲半径等衰减大。

到此,以上就是小编对于光缆熔接损耗太大的问题就介绍到这了,希望介绍关于光缆熔接损耗太大的4点解答对大家有用。

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