光缆线路衰减测试，光缆衰减标准
大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于光缆线路衰减测试的问题，于是小编就整理了3个相关介绍光缆线路衰减测试的解答，让我们一起看看吧。
1、测定光纤衰减系数的测试方法有三种,它们是
常用的光纤损耗测试方法有剪断法、插入法和背向散射法三种。剪断法通过测试被测光纤的入纤功率和出纤功率来测试光纤的衰减。插入法的测量原理类似于剪断法，只不过插入法是用带活动插头的光纤跳线代替短光纤进行测量。
光纤在不同波长下的衰减是不一样的，普通单模光纤在1310nm波长时的衰减小于0.36dB/km，而在1550nm波长时小于0.22dB/km。
光纤测试方法之人工简易测试：这种方法一般用于快速检测光纤的通断和施工时用来分辨所做的光纤。它是用一个简易光源从光纤的一端打入可见光，从另一端观察哪一根发光来实现。
光纤线路损耗测量采取的方法一般是光源、光功率计和光时域反射仪相结合的测量方法。光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。
2、光缆测试损耗范围
一般一干要求为0.01以内，二干要求为0.03以内 本地网要求为0.08以内 当用OTDR测试时，可以看插损，具体可以用两点法、三点法、四点法、和五点法来测试。具体使用方法可以在OTDR帮助里查看。
光纤在不同波长下的衰减是不一样的，普通单模光纤在1310nm波长时的衰减小于0.36dB/km，而在1550nm波长时小于0.22dB/km（参见G.652光纤的相关标准，YDT里有，具体几号忘了）。
单模光纤的熔接衰耗在1550nm工作波长单向测试应≤或者0.1dB，双向平均应≤0.08dB。平均衰耗（按2KM配盘）应≤0.26dB/KM。活接头≤0.5dB/个。法兰盘衰耗≤0.3dB/个。
熔接损耗小于0.03db，测试熔接损耗0.08，db。一般标准损耗0.25db/km【1550nm】。
3、光缆测试损耗范围
一般一干要求为0.01以内，二干要求为0.03以内 本地网要求为0.08以内 当用OTDR测试时，可以看插损，具体可以用两点法、三点法、四点法、和五点法来测试。具体使用方法可以在OTDR帮助里查看。
光纤在不同波长下的衰减是不一样的，普通单模光纤在1310nm波长时的衰减小于0.36dB/km，而在1550nm波长时小于0.22dB/km（参见G.652光纤的相关标准，YDT里有，具体几号忘了）。
单模光纤的熔接衰耗在1550nm工作波长单向测试应≤或者0.1dB，双向平均应≤0.08dB。平均衰耗（按2KM配盘）应≤0.26dB/KM。活接头≤0.5dB/个。法兰盘衰耗≤0.3dB/个。
熔接损耗小于0.03db，测试熔接损耗0.08，db。一般标准损耗0.25db/km【1550nm】。
到此，以上就是小编对于光缆线路衰减测试的问题就介绍到这了，希望介绍关于光缆线路衰减测试的3点解答对大家有用。